
HEKA ELPro Scan 電弧學(xué)掃描顯微鏡系統(tǒng)**支持眾多材料類型:
? 金屬/ 合金/ 金屬陶瓷
? 光伏半導(dǎo)體和鋰電材料
? 導(dǎo)電聚合物
? 復(fù)合型納米結(jié)構(gòu)
? 生物細(xì)胞,大分子和納米膜
? 有機(jī)電解質(zhì)/溶液界面/離子液體
? 電化學(xué)活性有機(jī)物
以及更多的前沿交叉科學(xué)材料…
HEKA ELPro Scan電化學(xué)掃描顯微鏡系統(tǒng)最全的掃描技術(shù)和掃描模式:
? Scanning Electrochemical Microscopy (SECM)
? Scanning Ion Conductance Microscopy (SICM)
? Scanning Electrochemical Cell Microscopy (SECCM)
? Scanning Microcapillary Contact Method (SMCM)
? Scanning Kelvin Probe (SKP)
? Scanning Vibrating Electrode Technique (SVET)
? Simultaneous Surface Topography Mapping
? Shear-force Height and Volume Instant Tracking
? Synchronized Fluorescence Imaging
? Scanning Photoelectrochemical Microscopy (SPECM)
? Spatially-resolved Scanning μ-EIS, μ-CV, μ-Tafel